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晶体结构测定方法

晶体结构测定方法

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晶体结构测定方法

晶体结构测定方法,crystal structure determination,即利用晶体 X射线衍射可测定晶体结构。但衍射实验只能测得衍射强度(即结构振幅)而测不到相角,这样就不可能直接从强度得到晶体结构数据,而要利用其他方法。

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